バウンダリスキャンを用いたテスト手法に関する教育システムの開発

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<p>近年、BGAを用いた基板が主流となりつつあるが、プローブでコンタクトできない信号が増加する為、動作検証が困難となっている。この問題の解決手法の一つとして、バウンダリスキャンが注目されている。しかしながら、コンピュータ工学系の学科において、バウンダリスキャンに関する教育が実施されていない現状がある。そこで、我々はバウンダリスキャンを用いたテスト手法に関する使用方法及び使用する利点について理解を促す教育システムの開発を行なった。</p>

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Details 詳細情報について

  • CRID
    1390008754690192128
  • NII Article ID
    130008121834
  • DOI
    10.11486/ejisso.34.0_4c1-03
  • Text Lang
    ja
  • Data Source
    • JaLC
    • CiNii Articles
  • Abstract License Flag
    Disallowed

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