書誌事項
- タイトル別名
-
- Experimental Evaluation of Parasitic Bipolar Effects and Mechanical Stress Effects in SOI-Power-MOSFETs
- SOI-パワー MOSFET ニ オケル キセイ バイポーラ コウカ ト キカイテキ オウリョク コウカ ノ ジッケンテキ ヒョウカ
- 公開日
- 2022-01-01
- 資源種別
- journal article
- DOI
-
- 10.5104/jiep.jiep-d-21-00007
- 公開者
- 一般社団法人エレクトロニクス実装学会
この論文をさがす
説明
<p>本研究では,SOI-パワーMOSFETにおける寄生バイポーラ効果と機械的応力効果を実験的に評価し,それらの相互作用を明らかにすることを目的とした。機械的負荷下での電気特性変動は,4点曲げ試験により評価した。ドレイン電圧-ドレイン電流特性では,ゲート電圧が小さいほど寄生バイポーラ効果によるドレイン電流の増加が顕著に見られた。ピエゾ効果のみによる電流特性変動領域と寄生バイポーラ効果が発現する領域との比較から,寄生バイポーラ効果が機械的負荷に起因する電気特性変動を加速させることが示唆された。また,電流方向に対する負荷方向依存性の存在が示唆されたが,ゲート長さ依存性は明確にならなかった。</p>
収録刊行物
-
- エレクトロニクス実装学会誌
-
エレクトロニクス実装学会誌 25 (1), 103-110, 2022-01-01
一般社団法人エレクトロニクス実装学会
- Tweet
詳細情報 詳細情報について
-
- CRID
- 1390009142390959360
-
- NII論文ID
- 130008138987
-
- NII書誌ID
- AA11231565
-
- ISSN
- 1884121X
- 13439677
-
- HANDLE
- 10228/0002001465
-
- NDL書誌ID
- 031932003
-
- 本文言語コード
- ja
-
- 資料種別
- journal article
-
- データソース種別
-
- JaLC
- IRDB
- NDLサーチ
- Crossref
- CiNii Articles
- OpenAIRE
-
- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可