両面ラッピング加工中のウェーハ挙動に関する研究

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タイトル別名
  • Study on wafer actions during double-side lapping

抄録

<p>両面ラッピング加工ではウェーハが上定盤と下定盤に挟まれており、加工中の様子を観察することが困難であるため、加工中のウェーハ挙動に影響を与える因子については不明な部分が多い。そこで本研究では、上定盤をアクリル板に代替してウェーハ挙動を可視化し、キャリアの材質を変化させてウェーハ挙動観察を行った。これにより、キャリアの材質がウェーハ挙動に与える影響について検討した結果を述べる。</p>

収録刊行物

詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390010292564786432
  • DOI
    10.11522/pscjspe.2021a.0_139
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
  • 抄録ライセンスフラグ
    使用不可

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