極性制御したZnO薄膜を用いたZnO/Si 接合の特性評価

DOI

大澤健男

物材機構
山形栄人

法政大院
石垣隆正

法政大院
大橋直樹

物材機構

書誌事項

タイトル別名

Characterization of ZnO/Si Junctions using Polarity-Controlled ZnO Thin Films

収録刊行物

応用物理学会学術講演会講演予稿集

応用物理学会学術講演会講演予稿集 2017.2 (0), 3886-3886, 2017-08-25

公益社団法人応用物理学会

キーワード

詳細情報詳細情報について

CRID

1390012468134111616
DOI

10.11470/jsapmeeting.2017.2.0_3886
ISSN

24367613
本文言語コード

ja
データソース種別
- JaLC

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