書誌事項
- タイトル別名
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- An insulator surface structural analysis
- ゼツエン タイヒョウメン ノ コウゾウ カイセキ
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説明
<p>固体表面において絶縁体表面の実験的研究は,チャージアップ現象が生じるため電子線,イオンなどの荷電粒子を利用しにくいことが知られています.そこで,電気的に中性な原子ビームを用いた絶縁体表面観察についてご紹介します.本稿では,低速原子散乱分光法による絶縁体表面解析について説明します.</p>
収録刊行物
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- 応用物理
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応用物理 91 (11), 694-698, 2022-11-01
公益社団法人 応用物理学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390012468146718208
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- NII書誌ID
- AN00026679
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- ISSN
- 21882290
- 03698009
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- NDL書誌ID
- 032506833
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDLサーチ
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可