電気化学機械研磨におけるSiCの高能率スラリーレス加工法の開発(第11報)

DOI
  • 木下 亮祐
    大阪大 工学研究科 附属精密工学研究センター
  • 曹 健傑
    大阪大 工学研究科 附属精密工学研究センター
  • 孫 栄硯
    大阪大 工学研究科 附属精密工学研究センター
  • 大久保 雄司
    大阪大 工学研究科 附属精密工学研究センター
  • 山村 和也
    大阪大 工学研究科 附属精密工学研究センター
  • 青木 一史
    デンソー 生産技術部

書誌事項

タイトル別名
  • KOH電解液の濃度変化による4H-SiC(0001)の酸化特性の解明

抄録

<p>単結晶SiCは高出力・高周波デバイス用次世代半導体材料として有望視されており、SiCの高能率研磨技術として陽極酸化による表面改質と固定砥粒研磨を組み合わせたスラリーレス電気化学機械研磨(ECMP)が提案されている。本報では、4H-SiC(0001)基板に対して、陽極酸化で用いたKOH電解液の濃度と基板表面酸化特性の相関を調査した。 </p>

収録刊行物

詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390017843875428224
  • DOI
    10.11522/pscjspe.2023a.0_684
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
  • 抄録ライセンスフラグ
    使用不可

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