走査トンネル顕微鏡,原子間力顕微鏡およびフーリエ変換赤外分光法による水素終端シリコン表面の分析

書誌事項

タイトル別名
  • Analysis of Hydrogen-Terminated Silicon Surface by Scanning Tunneling Microscopy, Atomic Force Microscopy and Fourier Transform Infrared Spectroscopy.
  • カイセツ ソウサ トンネル ケンビキョウ ゲンシカンリョク ケンビキョウ オヨビ フーリエ ヘンカン セキガイ ブンコウホウ ニ ヨル スイソ シュウ タン シリコン ヒョウメン ノ ブンセキ

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収録刊行物

  • 真空

    真空 42 (10), 886-891, 1999

    一般社団法人 日本真空学会

参考文献 (13)*注記

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