書誌事項
- タイトル別名
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- Analysis of Hydrogen-Terminated Silicon Surface by Scanning Tunneling Microscopy, Atomic Force Microscopy and Fourier Transform Infrared Spectroscopy.
- カイセツ ソウサ トンネル ケンビキョウ ゲンシカンリョク ケンビキョウ オヨビ フーリエ ヘンカン セキガイ ブンコウホウ ニ ヨル スイソ シュウ タン シリコン ヒョウメン ノ ブンセキ
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収録刊行物
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- 真空
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真空 42 (10), 886-891, 1999
一般社団法人 日本真空学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390282679041775360
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- NII論文ID
- 10004568511
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- NII書誌ID
- AN00119871
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- ISSN
- 18809413
- 05598516
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- NDL書誌ID
- 4892002
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- Crossref
- CiNii Articles