Analysis of Hydrogen-Terminated Silicon Surface by Scanning Tunneling Microscopy, Atomic Force Microscopy and Fourier Transform Infrared Spectroscopy.
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- TAKAHAGI Takayuki
- Faculty of Engineering, Hiroshima University
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- SAKAUE Hiroyuki
- Faculty of Engineering, Hiroshima University
Bibliographic Information
- Other Title
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- 走査トンネル顕微鏡,原子間力顕微鏡およびフーリエ変換赤外分光法による水素終端シリコン表面の分析
- カイセツ ソウサ トンネル ケンビキョウ ゲンシカンリョク ケンビキョウ オヨビ フーリエ ヘンカン セキガイ ブンコウホウ ニ ヨル スイソ シュウ タン シリコン ヒョウメン ノ ブンセキ
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Journal
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- Shinku
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Shinku 42 (10), 886-891, 1999
The Vacuum Society of Japan
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Keywords
Details 詳細情報について
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- CRID
- 1390282679041775360
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- NII Article ID
- 10004568511
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- NII Book ID
- AN00119871
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- ISSN
- 18809413
- 05598516
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- NDL BIB ID
- 4892002
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- Text Lang
- ja
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- Data Source
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- JaLC
- NDL
- Crossref
- CiNii Articles