Analysis of Hydrogen-Terminated Silicon Surface by Scanning Tunneling Microscopy, Atomic Force Microscopy and Fourier Transform Infrared Spectroscopy.

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  • 走査トンネル顕微鏡，原子間力顕微鏡およびフーリエ変換赤外分光法による水素終端シリコン表面の分析
  • カイセツ ソウサ トンネル ケンビキョウ ゲンシカンリョク ケンビキョウ オヨビ フーリエ ヘンカン セキガイ ブンコウホウ ニ ヨル スイソ シュウ タン シリコン ヒョウメン ノ ブンセキ

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  • Shinku

    Shinku 42 (10), 886-891, 1999

    The Vacuum Society of Japan

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