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- 松畑 洋文
- 産業技術総合研究所, 中央第2事業所エレクトロニクス研究部門
書誌事項
- タイトル別名
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- Critical Phenomena and Degeneracies Observed in Electron Diffraction
- デンシ カイセツ デ カンサツ サレル シュクタイ ト リンカイ ゲンショウ 2
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抄録
Bloch wave degeneracies, which can be observed in high-energy electron diffraction, are summarized. Critical voltages of non-systematic reflections for 4 beam and 5 beam cases, and zone axis critical voltage effect are discussed. Bloch wave degeneracy observed in non-symmorphic space group is explained. Pseudo-critical voltage effect observed in non-centrosymmetric crystal is also discussed. The experimental measurement of the degeneracy is mentioned briefly. Examples of application of the critical voltage effect for estimation of accurate structure factors are discussed.
収録刊行物
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- 日本結晶学会誌
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日本結晶学会誌 46 (4), 276-285, 2004
日本結晶学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390282679064704128
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- NII論文ID
- 10013526774
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- NII書誌ID
- AN00188364
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- ISSN
- 18845576
- 03694585
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- NDL書誌ID
- 7080039
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- Crossref
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可