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- 寺内 正己
- 東北大学多元物質科学研究所
書誌事項
- タイトル別名
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- Electron Energy-Loss Spectroscopy Based on Transmission Electron Microscope
- デンシ ケンビキョウ ニュウモン コウザ チュウキュウヘン トウカ デンシ ケンビキョウ ノ センシン キノウ オ モット カツヨウ シヨウ 3 EELS デ ナニ ガ ワカル ノ カ
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説明
Analysis methods of electron energy-loss spectroscopy (EELS) based on transmission electron microscopy are described. An introduction includes a short history, types of spectrometers and advantageous points of EELS. Thickness determination and elemental analysis methods are briefly described. Information of electronic structures appearing in valence-loss spectra is explained using spectra of graphite, C60 and diamond. Characteristic effects on core-loss spectra of the selection rule, on site excitation, chemical shift and core-hole interaction are explained.
収録刊行物
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- 日本結晶学会誌
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日本結晶学会誌 44 (5), 277-283, 2002
日本結晶学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390282679066896000
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- NII論文ID
- 10010393721
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- NII書誌ID
- AN00188364
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- ISSN
- 18845576
- 03694585
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- NDL書誌ID
- 6348644
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- データソース種別
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- JaLC
- NDLサーチ
- Crossref
- CiNii Articles
- OpenAIRE
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可