The Present Situation of Corrosive Gas Test for Electronic Parts
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- HARAGUSHI Satoshi
- Tishiba Corporation, Power and Industrial System R & B Cecter
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- IDA Sadao
- Tishiba Corporation, Power and Industrial System R & B Cecter
Bibliographic Information
- Other Title
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- エレクトロニクス分野におけるめっき皮膜の評価法 電子部品の腐食性ガス試験の現状 一般環境模擬試験方法の研究
- デンシ ブヒン ノ フショクセイ ガス シケン ノ ゲンジョウ イッパン カンキョウ モギ シケン ホウホウ ノ ケンキュウ
- 一般環境模擬試験方法の研究
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Journal
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- Journal of The Surface Finishing Society of Japan
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Journal of The Surface Finishing Society of Japan 53 (2), 96-103, 2002
The Surface Finishing Society of Japan
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1390282679093161472
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- NII Article ID
- 10008007129
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- NII Book ID
- AN1005202X
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- COI
- 1:CAS:528:DC%2BD38XislahtL8%3D
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- ISSN
- 18843409
- 09151869
- http://id.crossref.org/issn/09151869
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- NDL BIB ID
- 6063294
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- Text Lang
- ja
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- Data Source
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- JaLC
- NDL
- Crossref
- CiNii Articles