書誌事項
- タイトル別名
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- X-Ray Photoelectron Spectroscopy
- 最新表面科学講座(第21講)X線光電子分光法
- サイシン ヒョウメン カガク コウザ(ダイ21コウ)Xセン コウデンシ ブンコウホウ
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説明
X線光電子分光法（XPS：X-ray Photoelectron Spectroscopy，またはESCA：Electron Spectroscopy for Chemical Analysis）は，固体表面数nm（数十原子層）の深さ領域における化学情報を分析する手法であり，今日最も広く用いられている表面分析手法の一つである。 本稿では，XPSの簡単な原理，測定法および応用例について概説した。
収録刊行物
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- 色材協会誌
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色材協会誌 87 (2), 59-63, 2014
一般社団法人 色材協会
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キーワード
詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390282679115720960
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- NII論文ID
- 130004516280
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- NII書誌ID
- AN00354634
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- ISSN
- 18832199
- 0010180X
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- NDL書誌ID
- 025289732
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDLサーチ
- Crossref
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可
