4-5 CCD駆動ICにおける同期信号分周雑音の定量化

DOI
  • 田代 信一
    松下電子工業(株)ピクチャーコンポーネント(事)
  • 井原 功
    松下電子工業(株)ピクチャーコンポーネント(事)
  • 武田 勝見
    松下電子工業(株)ピクチャーコンポーネント(事)
  • 宮下 昌泰
    松下電子工業(株)ピクチャーコンポーネント(事)
  • 曽根 賢朗
    松下電子工業(株)ピクチャーコンポーネント(事)

書誌事項

タイトル別名
  • Analysis of Fixed Pattern Noise from CCD Timing IC

抄録

Correlation between Fixed Pattern Noise level and current ununiformity of CCD timing IC has been quantified. Current simulatrion method to examine current ununiformity has been established.

収録刊行物

詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390282679425899136
  • NII論文ID
    110004774322
  • DOI
    10.11485/tvac.31.0_67
  • ISSN
    24330930
    09191879
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles
  • 抄録ライセンスフラグ
    使用不可

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