Life Distribution of Nano-Scale High Reliability LSI : A Study of the Bathtub Curve from the Physics of Failure Point of View (Physics of Failure and Reliability)
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- KIMURA Tadamasa
- 電気通信大学
Bibliographic Information
- Other Title
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- ナノスケール高信頼性LSIの寿命分布 : 故障物理からのバスタブ曲線の考察 (故障物理と信頼性)
- ナノスケール高信頼性LSIの寿命分布--故障物理からのバスタブ曲線の考察
- ナノスケール コウシンライセイ LSI ノ ジュミョウ ブンプ コショウ ブツリ カラ ノ バスタブ キョクセン ノ コウサツ
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Description
ナノスケール時代の最新の半導体LSIの信頼性は,従来のバスタブ曲線の考え方には必ずしも従わない.高信頼性LSIでは故障率vs時間特性をどのように孝えるべきか,故障物理の視点から,従来のバスタブ曲線の初期故障,偶発故障,摩耗故障それぞれの領域を見直し,新しい考え方を提案する.
Journal
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- The Journal of Reliability Engineering Association of Japan
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The Journal of Reliability Engineering Association of Japan 26 (1), 46-53, 2004
Reliability Engineering Association of Japan
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1390282679428706176
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- NII Article ID
- 110003994545
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- NII Book ID
- AN10540883
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- ISSN
- 24242543
- 09192697
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- NDL BIB ID
- 6848491
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- Text Lang
- ja
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- Data Source
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- JaLC
- NDL Search
- CiNii Articles
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- Abstract License Flag
- Disallowed