A Survey of Approaches for High Field Reliability(<Special Survey>Testing and Evaluation Technology for LSI)

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  • フィールド高信頼化のためのアプローチ(<特集>LSIのテスト・評価技術)
  • フィールド高信頼化のためのアプローチ
  • フィールド コウシンライカ ノ タメ ノ アプローチ

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VLSIの高機能化と高性能化,また製造プロセスの微細化とともに,性能の劣化現象が着目されている.システムに組み込まれたVLSIがフィールドで性能劣化を進行させる中で,その劣化を事前に検知し,障害発生による事故を予防することが重要な課題となりつつある.本論文ではVLSIの劣化に着目して,システムの高信頼化を実現するアプローチについて,最新の研究開発動向を解説・展望する.

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