書誌事項
- タイトル別名
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- Analyses and Measurements of Propagation of Substrate Noise of CMOS Digital Circuit
- CMOS デジタル カイロ ニ オケル キバン ザツオン ノ デンパン トクセイ カイセキ ト ジッソク ヒョウカ
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抄録
高性能AD混載LSIの設計には、論理回路のスイッチング動作時に発生する基板雑音のシリコン基板中の伝搬特性の解析が不可欠である。本報告では、基板雑音評価チップに搭載したCMOS論理回路雑音源の等価回路と、チップ内のグラウンド配線を含むF行列基板等価回路モデルを用いて、基板雑音の発生および伝搬解析をおこなった。同チップの基板雑音の実測結果と解析結果を比較し、両者の基板雑音波形および理論回路からの距離による雑音強度の減衰効果が良く一致すること、また基板雑音強度のピーク値はおよそ15%以内で一致すること、を確認した。
収録刊行物
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- 映像情報メディア学会技術報告
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映像情報メディア学会技術報告 24.52 (0), 9-14, 2000
一般社団法人 映像情報メディア学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390282679500590848
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- NII論文ID
- 110003688170
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- NII書誌ID
- AN1059086X
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- ISSN
- 24241970
- 13426893
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- NDL書誌ID
- 5549180
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可