Digitally-Assisted Analog Test Technology : Analog Circuit Test Technology in Nano-CMOS Era

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Other Title
  • デジタルアシスト・アナログテスト技術 : ナノCMOS時代のアナログ回路テスト技術(アナログ,アナデジ混載,RF及びセンサインタフェース回路)
  • 招待講演 デジタルアシスト・アナログテスト技術--ナノCMOS時代のアナログ回路テスト技術
  • ショウタイ コウエン デジタルアシスト アナログテスト ギジュツ ナノ CMOS ジダイ ノ アナログ カイロ テスト ギジュツ

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Abstract

This paper reviews current production testing issues for analog and mixed-signal SoC, and discusses the following: (i) Digitally-assisted analog technology prevails in mixed-signal SoC with fine CMOS which uses digital-rich architecture, digital self-calibration and error correction, and we consider their effective production testing. (ii) Mixed-signal SoCs frequently incorporate digital resources such as DSP cores and memory. We discuss how such resources can be utilized to simplify production testing of the analog RF circuitry in the SoC.

Journal

  • ITE Technical Report

    ITE Technical Report 34.29 (0), 37-42, 2010

    The Institute of Image Information and Television Engineers

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