Evolution of Testing Techniques of Semiconductor Industry by Utilization of Big Test Data

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  • Nakamura Yoshiyuki
    Test Technology Development Dept. Renesas Semiconductor Package & Test Solutions Co.,Ltd

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  • テストのビッグデータ活用による半導体業界の検査技術の進化
  • テスト ノ ビッグデータ カツヨウ ニ ヨル ハンドウタイギョウカイ ノ ケンサ ギジュツ ノ シンカ

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