書誌事項
- タイトル別名
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- Electrical Testing of Open Defects between IEEE1149.1 Compliant ICs
- IEEE1149.1準拠IC間断線の電気検査法
- IEEE1149 1 ジュンキョ IC カンダンセン ノ デンキ ケンサホウ
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収録刊行物
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- エレクトロニクス実装学会誌
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エレクトロニクス実装学会誌 14 (2), 99-102, 2011
一般社団法人エレクトロニクス実装学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390282679537197440
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- NII論文ID
- 10028107475
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- NII書誌ID
- AA11231565
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- ISSN
- 1884121X
- 13439677
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- NDL書誌ID
- 11031141
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- Crossref
- CiNii Articles
