熱刺激表面電位によるＭＩＳ界面準位の測定法

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  • A Method for Determining MIS Interface States by Therma- lly Stimulated Surface Potential
  • ネツ シゲキ ヒョウメン デンイ ニヨル MIS カイメン ジュンイ ノ ソク

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抄録

記事分類: 電気工学--電子工学--電子部品--固体素子

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