書誌事項
- タイトル別名
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- Dielectric Breakdown Characteristics of Extremely Thin SiO Films
- キワメテ ウスイ SiO ジョウチャク マク ノ ゼツエン ハカイ トクセイ
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抄録
記事分類: 電気工学--電気材料・部品--絶縁材料 ; 電気工学--電子工学--電子部品--固体素子
収録刊行物
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- 電気学会論文誌． Ａ
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電気学会論文誌． Ａ 97 (6), 309-316, 1977
一般社団法人 電気学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390282679576392448
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- NII論文ID
- 40002516256
- 130003570277
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- NII書誌ID
- AN10136312
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- ISSN
- 13475533
- 03854205
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- NDL書誌ID
- 1831073
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- Crossref
- CiNii Articles