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- 浅野 勝則
- 関西電力(株)研究開発室電力技術研究所
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- 林 利彦
- 関西電力(株)研究開発室電力技術研究所
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- 高山 大輔
- 関西電力(株)研究開発室電力技術研究所
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- 菅原 良孝
- 関西電力(株)研究開発室電力技術研究所
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- Ryu Sei-Hyung
- Cree, Inc
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- Palmour John W.
- Cree, Inc
書誌事項
- タイトル別名
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- Electric characteristics of normally-off type 5 kV class 4H-SiC JFET, "SEJEET"
- ノーマリオフ型5kV級4H-SiC JFET "SEJFET"の電気的特性
- ノーマリオフガタ 5kVキュウ 4H SiC JFET SEJFET ノ デンキテキ トクセイ
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説明
A normally-off type 5.3kV 4H-SiC JFET with low specific on-resistance, called SEJFET (Static Expansion channel JFET), has been fabricated. Its normally-off operation was realized by a thin regrown epitaxial channel layer and using the buried p+ regions as a gate in addition to the top p+ regions. The achieved blocking voltage is the highest class BV among the reported SiC JFET. In a 5.3kV 4H-SiC SEJFET, the lowest specific on resistance of 69mΩcm2. Furthermore, the highest current capability among SiC JFET of 3.3A is achieved. In all reported FETs, the SEJFET has the best trade-off between RonS and blocking voltage (BV), which is about 1/230th lower than theoretical limit of a Si FET. Furthermore, the figure of merit (BV2/RonS) is 407MW/cm2, and this value is the highest among reported normally off SiC FETs.
収録刊行物
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- 電気学会論文誌D(産業応用部門誌)
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電気学会論文誌D(産業応用部門誌) 125 (1), 26-31, 2005
一般社団法人 電気学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390282679635237120
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- NII論文ID
- 10014100050
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- NII書誌ID
- AN10012320
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- ISSN
- 13488163
- 09136339
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- NDL書誌ID
- 7206541
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- Crossref
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可