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LSI Failure Analysis Using Laser Terahertz Emission Microscope
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- YAMASHITA Masatsugu
- 理化学研究所光量子工学研究領域テラヘルツイメージング研究チーム
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- OTANI Chiko
- 理化学研究所光量子工学研究領域テラヘルツイメージング研究チーム
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- MATSUMOTO Toru
- 浜松ホトニクス (株) システム事業部第18部門
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- GOTO Yasunori
- トヨタ自動車 (株) パワーエレクトロニクス開発部
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- TONOUCHI Masayoshi
- 大阪大学レーザーエネルギー学研究センターレーザーテラヘルツ研究部門
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- NAKAMAE Koji
- 大阪大学大学院情報科学研究科情報システム工学専攻
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- NIKAWA Kiyoshi
- 金沢工業大学大学院工学研究科高信頼ものづくり専攻
Bibliographic Information
- Other Title
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- レーザー励起テラヘルツ放射イメージングを利用したLSI故障解析
- レーザーレイキテラヘルツ ホウシャ イメージング オ リヨウ シタ LSI コショウ カイセキ
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Journal
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- Journal of the Japan Society for Precision Engineering
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Journal of the Japan Society for Precision Engineering 82 (3), 225-229, 2016
The Japan Society for Precision Engineering
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1390282679805878400
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- NII Article ID
- 130005131177
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- NII Book ID
- AN1003250X
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- ISSN
- 1882675X
- 09120289
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- NDL BIB ID
- 027186336
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- Text Lang
- ja
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- Data Source
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- JaLC
- NDL Search
- Crossref
- CiNii Articles