書誌事項
- タイトル別名
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- Impact of the AlN Nucleation Layer on GaN grown on Silicon Substrate by MOCVD for Power—devices
- パワーデバイス用GaN on Si結晶 : AlN核形成層の重要性
- パワーデバイスヨウ GaN on Si ケッショウ : AlNカク ケイセイソウ ノ ジュウヨウセイ
- —AlN核形成層の重要性—
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抄録
<p>1.はじめに</p><p>近年,Siウェーハを用いたGaN on Siパワーデバイスの開発が活発である(1)。</p><p>図1にAl GaN/GaN HEMT on Siエピタキシャルウェーハ(以下,HEMT on Siエピウェーハ)の構造を示す(2)。GaとSiのメルトバックエッチング(3)を防止するため初期</p>
収録刊行物
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- 電気学会誌
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電気学会誌 137 (10), 681-684, 2017
一般社団法人 電気学会
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キーワード
詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390282679972989824
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- NII論文ID
- 130006109853
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- NII書誌ID
- AN10432927
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- ISSN
- 18814190
- 13405551
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- NDL書誌ID
- 028615579
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- Crossref
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可