Standardization of Measurement and Characterization for Nanotechnology: Recent Trend and Roadmap
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- ICHIMURA Shingo
- National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST)
Bibliographic Information
- Other Title
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- ナノ計測の標準化:最近の動向とロードマップ
- 序論 ナノ計測の標準化 : 最近の動向とロードマップ
- ジョロン ナノ ケイソク ノ ヒョウジュンカ : サイキン ノ ドウコウ ト ロードマップ
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Journal
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- Journal of the Vacuum Society of Japan
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Journal of the Vacuum Society of Japan 56 (7), 249-251, 2013
The Vacuum Society of Japan
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1390282680271248128
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- NII Article ID
- 130003369632
- 10031184199
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- NII Book ID
- AA12298652
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- BIBCODE
- 2013JVSJ...56..249I
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- COI
- 1:CAS:528:DC%2BC3sXhsFSksrvJ
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- ISSN
- 18824749
- 18822398
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- NDL BIB ID
- 024760273
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- Text Lang
- ja
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- Data Source
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- JaLC
- NDL
- Crossref
- CiNii Articles