書誌事項
- タイトル別名
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- Development of Electron Beam Ion Trap(EBIT) for Studies with Highly Charged Ions.
- デンシ ビーム イオン トラップ EBIT ノ カイハツ ト タカ イオン ノ
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収録刊行物
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- 日本物理学会誌
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日本物理学会誌 52 (12), 919-923, 1997
一般社団法人 日本物理学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390282680380701440
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- NII論文ID
- 110002069045
- 130004180779
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- NII書誌ID
- AN00196952
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- ISSN
- 24238872
- 00290181
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- NDL書誌ID
- 4352159
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDLサーチ
- CiNii Articles