Calculations and measurements of propagation constant of a microstrip line

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  • マイクロストリップ線路の伝搬定数の計算および実験

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銅張りガラスクロスセラミックPTFE積層基板AR-1000に関して、平面および垂直方向の複素比誘電率および両面に張られた銅箔の表面および界面の比導電率を種々の共振器法により測定した。これらの測定値を用いてAR-1000上に構成されるマイクロ波伝送線路の伝搬定数すなわち減衰定数αおよびβを1-20GHzにわたり計算し、実験結果と比較した。特に、αを誘電体損αdと導体損αcに分離して評価し、損失要因の内訳に対する評価を行った。

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  • CRID
    1390282680532506624
  • NII Article ID
    130005469564
  • DOI
    10.11486/ejisso.24.0_122
  • Text Lang
    ja
  • Data Source
    • JaLC
    • CiNii Articles
  • Abstract License Flag
    Disallowed

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