書誌事項
- タイトル別名
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- Fast Calculation Method of Subsurface Scattering for Point-sampled Geometry
- ポイントサンプルジオメトリ ノ タメ ノ ヒョウメン カ サンラン ノ コウソク ケイサンホウ
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説明
大理石やミルク，人の肌のような半透明な物質を正確にレンダリングするためは，表面下散乱と呼ばれる物体内での光の散乱を考慮する必要がある．しかしながら，表面下散乱は計算時間が非常にかかることが知られている．ポリゴンで表現された物体の表面下散乱を効率的に計算する研究は数多く行われてきた．近年，3次元形状を表現する手法としてポイントサンプルジオメトリが注目されている．しかしながらポイントサンプルジオメトリのための表面下散乱の高速な計算に関する研究はほとんど行われていない．そこで本研究では，ポイントサンプルジオメトリのための表面下散乱の高速計算法を提案する．提案法では，半透明物体を表現する点群を八分木データ構造で格納し，八分木の各ノードを構成する８頂点について表面下散乱を計算する．各ノードに含まれる点における散乱光の輝度をノードの８頂点での散乱光の輝度から補間することで，30万頂点からなる大規模なモデルでインタラクティブな速度で半透明物体をレンダリングすることができた．
収録刊行物
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- 画像電子学会研究会講演予稿
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画像電子学会研究会講演予稿 04-07 (0), 41-46, 2005
一般社団法人 画像電子学会
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キーワード
詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390282680576119424
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- NII論文ID
- 130005441635
- 40006681563
- 10017978506
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- NII書誌ID
- AN00348041
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- ISSN
- 27589218
- 02853957
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- NDL書誌ID
- 7291438
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- データソース種別
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- JaLC
- NDLサーチ
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可