Ｘ線回折強度データの統計的な性質

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タイトル別名
  • Statistical properties of x-ray diffraction intensity data

抄録

精密かつ詳細な構造情報を得る目的でＸ線回折測定に要求される実験的な確度と精度は高度なものになっている。粉末Ｘ線回折データの解析には主に計数統計を考慮した重み付きの最小二乗法が用いられる。この方法は計数法により測定された強度データがポアソン分布に従うと仮定できる場合には最尤推定に近い方法である。しかし，精密な解析を目的とした場合には数え落としの補正が必須となり，数え落とし補正処理をほどこした後の強度データがポアソン分布に従うかは自明ではない。本研究では計数系の数え落としについて，はじめに解析的なモデルによりその統計学的な性格を明らかにし，さらにモンテカルロ計算により妥当性を検証する。

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390282680593869312
  • NII論文ID
    130006975044
  • DOI
    10.14853/pcersj.2007f.0.428.0
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles
  • 抄録ライセンスフラグ
    使用不可

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