高輝度スピン偏極電子源開発に向けたMott散乱検出装置の校正
書誌事項
- タイトル別名
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- Caribration of Mott polarization analyzer for development of high-brightness spin-polarized electron source
説明
電子がもつスピンを応用するスピントロニクスの分野が、近年注目されている。我々は、ナノ領域でのスピン物性評価に供することを目的に、高輝度スピン偏極電子源の開発を進めている。開発の第一段階として、電子線のスピン偏極度測定のため、電界放出顕微鏡(FEM)に小型の阻止電位型Mott散乱スピン検出器を搭載した複合装置(Spin-FEM)を作製した。本講演ではSpin-FEMの動作特性について報告する。
収録刊行物
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- 表面科学講演大会講演要旨集
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表面科学講演大会講演要旨集 26 (0), 242-242, 2006
公益社団法人 日本表面科学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390282680622113792
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- NII論文ID
- 130004673507
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- データソース種別
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- JaLC
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可