光学式仮想Vブロック方式を用いたスピンドル回転誤差測定システム
書誌事項
- タイトル別名
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- Optical measurement system of spindle run-out using virtual V-block method
説明
産業界で広く用いられている静電容量型変位センサを用いた2点法による回転誤差測定と、本研究で開発した光学式仮想Vブロック方式を用いた3点法による回転誤差測定を比較検討した。その結果、提案した仮想Vブロック方式は被測定マスターバーの形状精度の影響をほとんど受けないことを明らかにした。また、被測定マスターバーの2断面を測定することにより、マスターバーの偏心と傾きを回転誤差から分離できることを示した。
収録刊行物
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- 精密工学会学術講演会講演論文集
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精密工学会学術講演会講演論文集 2005S (0), 625-625, 2005
公益社団法人 精密工学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390282680628300800
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- NII論文ID
- 130004657755
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- 資料種別
- journal article
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- データソース種別
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- JaLC
- CiNii Articles
- KAKEN
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可