光学式仮想Vブロック方式を用いたスピンドル回転誤差測定システム

  • 山田 隆一
    長岡工業高等専門学校 機械工学科
  • 石田 徹吾
    長岡技術科学大学 工学部 機械システム工学専攻2年
  • 柳 和久
    長岡技術科学大学 工学部 機械系

書誌事項

タイトル別名
  • Optical measurement system of spindle run-out using virtual V-block method

説明

産業界で広く用いられている静電容量型変位センサを用いた2点法による回転誤差測定と、本研究で開発した光学式仮想Vブロック方式を用いた3点法による回転誤差測定を比較検討した。その結果、提案した仮想Vブロック方式は被測定マスターバーの形状精度の影響をほとんど受けないことを明らかにした。また、被測定マスターバーの2断面を測定することにより、マスターバーの偏心と傾きを回転誤差から分離できることを示した。

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390282680628300800
  • NII論文ID
    130004657755
  • DOI
    10.11522/pscjspe.2005s.0.625.0
  • 資料種別
    journal article
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles
    • KAKEN
  • 抄録ライセンスフラグ
    使用不可

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