変調エバネッセント照明による三次元高分解能計測に関する研究（第一報）

DOI
  • Kurihara Takayuki
    Department of Precision Engineering, Institute of Technology, University of Tokyo
  • Sugimoto Ryuichi
    Department of Precision Engineering, Institute of Technology, University of Tokyo
  • Kudo Ryota
    Department of Precision Engineering, Institute of Technology, University of Tokyo
  • Takahashi Satoru
    Department of Precision Engineering, Institute of Technology, University of Tokyo
  • Takamasu Kiyoshi
    Department of Precision Engineering, Institute of Technology, University of Tokyo

Bibliographic Information

Other Title
  • 単一ナノ粒子の高さ計測

Abstract

内部全反射顕微法においてエバネッセント場内の蛍光微粒子の高さを計測する手法の研究を行った。この手法はエバネッセント光の深さ方向の強度分布が入射角に依存することを用いて、複数の入射角における散乱光強度変化の情報から蛍光微粒子の界面からの距離を計測するものである。提案手法の検証のために光学系および観察用試料を作成し、計測実験を行った。結果は粒子の高さを定性的に反映しており、提案手法の有用性が示された。

Journal

Keywords

Details 詳細情報について

  • CRID
    1390282680630649216
  • NII Article ID
    130005030880
  • DOI
    10.11522/pscjspe.2011s.0.829.0
  • Text Lang
    ja
  • Data Source
    • JaLC
    • CiNii Articles
  • Abstract License Flag
    Disallowed

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