Operando Measurement by Photoelectron Spectroscopy

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  • 光電子分光によるオペランド計測

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触媒反応下での硬X線光電子分光を測定するためにSPring-8のBL36XUに「雰囲気制御型硬X線光電子分光(NAP-HAXPES)装置」を立ち上げた。燃料電池型NAP-HAXPES測定セルを開発し、カーボン担持のPtナノ粒子電極の動作環境下での光電子分光測定を行った。Pt3dピークを測定し、電極電圧に依存して強度が変化するPtの酸化由来のピークを検出した。<br>

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Details 詳細情報について

  • CRID
    1390282680654981248
  • NII Article ID
    130005489326
  • DOI
    10.14886/sssj2008.35.0_315
  • Data Source
    • JaLC
    • CiNii Articles
  • Abstract License Flag
    Disallowed

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