High-resolution measurement of field-ion yield distributions within a single image spot using a micro-probe hole field ion microscope
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- Oota Yasushi
- Osaka City University
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- Kobayashi Ataru
- Osaka City University
Bibliographic Information
- Other Title
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- マイクロプローブホール電界イオン顕微鏡を用いた単一輝点内部のイオン生成率分布の精密測定
Abstract
我々は、放出される電界イオンの観測を直径15pmの円形領域に制限したμPH-FIMを用いて、単一原子位置からのイオン生成率分布および導入ガス圧依存性を観測した。その結果、単一の輝点内部であっても電界イオン生成率分布に異方性が存在すること、および導入ガス圧依存性に違いが有ることを見出した。局所領域における微視的な電場分布とガス拡散の違いが輝点分布に及ぼす影響について報告する。
Journal
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- Abstract of annual meeting of the Surface Science of Japan
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Abstract of annual meeting of the Surface Science of Japan 36 (0), 86-, 2016
The Japan Society of Vacuum and Surface Science
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Keywords
Details
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- CRID
- 1390282680656520704
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- NII Article ID
- 130005175832
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- Text Lang
- ja
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- Data Source
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- JaLC
- CiNii Articles
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- Abstract License Flag
- Disallowed