X線非平行モノクロメータ法によるエピタキシャル膜の格子変形の測定 : 結晶評価

Details 詳細情報について

• CRID

  1390282680874329216

• NII Article ID

  110002716127

• DOI

  10.19009/jjacg.5.3_53

• ISSN

  21878366

  03856275

• Text Lang

  ja

• Data Source

  • JaLC
  • CiNii Articles