VLSIのテストと高信頼性

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タイトル別名
  • Testing and reliable design of VLSI.
  • VLSI ノ テスト ト コウ シンライセイ

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収録刊行物

  • 計測と制御

    計測と制御 24 (4), 313-318, 1985

    公益社団法人 計測自動制御学会

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