書誌事項
- タイトル別名
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- Application of Cross Section Polisher to Sample Preparation for Surface Analysis
- クロス セクション ポリッシャー ノ ヒョウメン ブンセキヨウ ダンメン シリョウ サクセイ エノ オウヨウ
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説明
<p> 構造解析を行うために,試料加工技術は非常に重要である.従来,広く利用されている機械研磨法,ミクロトーム法等は有効な方法であるが,複合材料などを加工することが難しい,広い範囲を加工することができない等それぞれに難点も合わせ持っている.これらの手法の難点を克服するために,ブロードなアルゴンイオンビームを照射し試料加工を行う方法(クロスセクションポリッシャー:CP)が開発された.CPでは従来困難であった複合材料等の加工が容易になり,分析の幅が広がった.CP加工においては,加工前の前処理が非常に重要であり,材料に合わせた工夫が必要である.表面分析における可能性を広げるため,様々な材料への応用例を紹介する.</p>
収録刊行物
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- Journal of Surface Analysis
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Journal of Surface Analysis 15 (1), 50-58, 2008
一般社団法人 表面分析研究会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390282763059815680
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- NII論文ID
- 130007498813
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- NII書誌ID
- AA11448771
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- ISSN
- 13478400
- 13411756
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- NDL書誌ID
- 9647915
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDLサーチ
- Crossref
- CiNii Articles
- OpenAIRE
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可