光周波数コムを用いた高精度アライメントモニター（第5報）
書誌事項
- タイトル別名
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- Precise alignment monitor based on an optical frequency comb (5th report)
- Calibration of the pulse repetition frequency of an optical frequency comb compressed by an etalon
- エタロンで圧縮された光周波数コムのパルス繰返し周波数の校正
抄録
<p>我々は，直径600 mm，高さ750 mm程度の対象物に，光ファイバ導入型の複数の絶対測長干渉計の測長路を張り巡らせることで，高磁場，真空下における数μm程度の変動の，数カ月間以上にわたる監視を目指している．これまでに，長さ基準とするエタロンで圧縮された光周波数コムのパルス間隔を，数ppm(k=2)程度の比不確かさで校正してきた．ここでは，より高確度な校正を目指して周波数領域での校正を行った．</p>
収録刊行物
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- 精密工学会学術講演会講演論文集
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精密工学会学術講演会講演論文集 2020A (0), 347-348, 2020-08-20
公益社団法人 精密工学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390287142240613504
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- NII論文ID
- 130007988953
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可