書誌事項
- タイトル別名
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- Optical Nano-Artifact Metrics Using White-Light Interferometric Measurement
- ハクショク カンショウケイ オ ヨミトリ ソウチ ト シタ コウガクテキ ナノ ジンコウブツ メトリクス
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説明
Nano-artifact metrics exploits the unique physical attributes of nanostructured matter for authentication. The crucial point is how to read and utilize nanostructured matter. This article cites work on optical nano-artifact metrics using a white-light interferometric measurement.
収録刊行物
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- レーザー研究
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レーザー研究 47 (6), 295-, 2019
一般社団法人 レーザー学会
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キーワード
詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390289021895937920
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- NII論文ID
- 130008074097
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- NII書誌ID
- AN00255326
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- ISSN
- 13496603
- 03870200
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- NDL書誌ID
- 029803676
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDLサーチ
- Crossref
- CiNii Articles
- OpenAIRE
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可
