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機械学習による外観検査への取り組み
Description
<p>ディープラーニングの発展により、画像認識技術は新たな発展の時期を迎えている。</p><p>本講演では、外観検査に応用可能な画像認識および機械学習の基礎的な説明を行った後、ディープラーニングを用いた最新技術について、事例とともに紹介する。</p>
Journal
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- Proceedings of JIEP Annual Meeting
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Proceedings of JIEP Annual Meeting 33 (0), 11A1-01-, 2019
The Japan Institute of Electronics Packaging
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1390290229666550784
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- NII Article ID
- 130008121598
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- Text Lang
- ja
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- Data Source
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- JaLC
- CiNii Articles
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- Abstract License Flag
- Disallowed