放射光X線回折を用いたτ型有機伝導体の構造解析

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タイトル別名
  • Structure analysis of τ-type molecular conductor using Synchrotron X-ray Diffraction

収録刊行物

詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390290958069776384
  • NII論文ID
    130008155556
  • DOI
    10.11316/jpsgaiyo.75.1.0_1585
  • ISSN
    21890803
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles

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