縦型<i>p</i>型GaN SBD構造を用いたショットキー障壁高さの評価
書誌事項
- タイトル別名
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- Characterization of Schottky barrier height for metal/lightly <i>p</i>-type doped GaN interface on vertical SBDs
収録刊行物
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- 応用物理学会学術講演会講演予稿集
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応用物理学会学術講演会講演予稿集 2021.1 (0), 2617-2617, 2021-02-26
公益社団法人 応用物理学会