ワイドギャップ半導体β-Ga<sub>2</sub>O<sub>3</sub>単結晶のテラヘルツ波反射測定によるキャリア密度評価

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  • Estimation of Carrier Density of Widegap Semiconductor <i>β</i>-Ga<sub>2</sub>O<sub>3</sub> Single Crystals by THz Wave Reflection Measurement

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