ワイドギャップ半導体β-Ga<sub>2</sub>O<sub>3</sub>単結晶のテラヘルツ波反射測定によるキャリア密度評価
書誌事項
- タイトル別名
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- Estimation of Carrier Density of Widegap Semiconductor <i>β</i>-Ga<sub>2</sub>O<sub>3</sub> Single Crystals by THz Wave Reflection Measurement
収録刊行物
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- 応用物理学会学術講演会講演予稿集
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応用物理学会学術講演会講演予稿集 2015.1 (0), 3847-3847, 2015-02-26
公益社団法人 応用物理学会