放射光XPSによるSiO<sub>2</sub>/4H-SiC構造の伝導帯オフセット評価

DOI

桐野嵩史

阪大院工
景井悠介

阪大院工
岡本学

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原子力機構
吉越章隆

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収録刊行物

応用物理学会学術講演会講演予稿集

応用物理学会学術講演会講演予稿集 2010.1 (0), 3560-3560, 2010-03-03

公益社団法人応用物理学会

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詳細情報詳細情報について

CRID

1390299450896077568
DOI

10.11470/jsapmeeting.2010.1.0_3560
ISSN

24367613
本文言語コード

ja
データソース種別
- JaLC

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