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- 笹川 薫
- コベルコ科研
書誌事項
- タイトル別名
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- Introduction to Ion Beam Analysis (I) (HEIS, MEIS, LEIS) (2)
- イオンビーム分析概論(1)HEIS,MEIS,LEIS(第2回)
- イオン ビーム ブンセキ ガイロン 1 HEIS MEIS LEIS ダイ 2カイ
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説明
<p> イオンビーム分析概論(I)として,イオン散乱全般の入門的な内容を紹介する.イオン散乱分析を理解するために必要な5つの基本的な概念のうちから,カイネマティック因子,散乱断面積,阻止能,エネルギーストラグリング,について第一回よりも詳細に説明する. </p>
収録刊行物
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- Journal of Surface Analysis
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Journal of Surface Analysis 14 (1), 49-58, 2007
一般社団法人 表面分析研究会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390564238036294144
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- NII論文ID
- 130007499212
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- NII書誌ID
- AA11448771
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- ISSN
- 13478400
- 13411756
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- NDL書誌ID
- 8979238
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- Crossref
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可