書誌事項
- タイトル別名
-
- Applications of Transmission Electron Microscopy in Material Characterization of Ceramics
- セラミックス ザイリョウ ヒョウカ ニ オケル トウカガタ デンシ ケンビキョウホウ ノ カツヨウ
この論文をさがす
説明
<p>透過電子顕微鏡法はナノメートル領域のセラミックス材料評価において高い空間分解能と時間分解能を併せ持つ極めて有効な手法である.本稿では,セラミックス材料の特性を支配する電気特性と微細構造の評価技術において,透過型電子顕微鏡法を強誘電ドメイン観察,粒界偏析分析,及び焼結過程の動的観察などに活用した例を紹介する.</p>
収録刊行物
-
- 顕微鏡
-
顕微鏡 44 (1), 7-10, 2009-03-30
公益社団法人 日本顕微鏡学会
- Tweet
詳細情報 詳細情報について
-
- CRID
- 1390565134820743040
-
- NII論文ID
- 130007788864
-
- NII書誌ID
- AA11917781
-
- ISSN
- 24342386
- 13490958
-
- NDL書誌ID
- 10265670
-
- 本文言語コード
- ja
-
- データソース種別
-
- JaLC
- NDL
- CiNii Articles
-
- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可