X線散乱法を用いた凝集粒子の構造評価

書誌事項

タイトル別名
  • Evaluation of structure of aggregated nanoparticles by using X-ray scattering method
  • Xセン サンラン ホウ オ モチイタ ギョウシュウ リュウシ ノ コウゾウ ヒョウカ
  • エックスセン サンランホウ オ モチイタ ギョウシュウ リュウシ ノ コウゾウ ヒョウカ

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説明

ナノ粒子はその勝れた電気特性や光学特性で注目されているが、容易に凝集し、その凝集構造も粒子の特性に影響を与える。このため、ナノ粒子の凝集構造の評価方法に関心が集まり、多くの方法が提案されている。本研究ではその内の小角X線散乱法によるフラクタル次元解析に注目し、コロイド溶液のpHや電解質濃度を変えてナノ粒子の凝集プロセスの異なる試料を作製し、この解析方法が適切な評価を与えるかを検討した。表面フラクタル次元は凝集状態によらず一定値を示し、測定手法の妥当性を示した。しかしながら、体積フラクタルは凝集状態に対応して異なる値を示したが、フラクタル凝集理論から考えられる値の傾向と逆になった。

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