近接場光学顕微鏡による窒化物半導体ナノ構造の光学評価
-
- 川上 養一
- 京大院工
書誌事項
- タイトル別名
-
- Optical Characterization of Nitride-semiconductor-based Nano-structures by Scanning Near-field Optical Microscopy
収録刊行物
-
- 応用物理学会学術講演会講演予稿集
-
応用物理学会学術講演会講演予稿集 2019.2 (0), 64-64, 2019-09-04
公益社団法人 応用物理学会