酸化物半導体のX線耐性の基礎研究

DOI

大鷹豊

首都大東大
島添健次

東大
小山晃広

東大
三好寿顕

SHARP
飯本武志

東大
高橋浩之

東大
井上一雅

首都大
福士政広

首都大

書誌事項

タイトル別名

Radiation-resistant fundamental researches of the oxide semiconductor

収録刊行物

応用物理学会学術講演会講演予稿集

応用物理学会学術講演会講演予稿集 2017.1 (0), 491-491, 2017-03-01

公益社団法人応用物理学会

キーワード

詳細情報詳細情報について

CRID

1390575661592408704
DOI

10.11470/jsapmeeting.2017.1.0_491
ISSN

24367613
本文言語コード

ja
データソース種別
- JaLC

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