書誌事項
- タイトル別名
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- Strain Analysis Using STEM Moiré Method
- STEM ノ ソウサセン ト ケッショウ ゴウシ ニ ヨル モアレジマ ニ ヨル ヒズミ ノ ケイソク
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説明
<p>STEMでのモアレ縞を利用した結晶歪の計測を報告する.STEMモアレ縞は格子縞の同程度の間隔の走査線によるアンダーサンプリング効果で生成する.モアレの間隔は格子と走査線の間隔の比と方向によって決まる.このモアレ縞を用いることによりSiの格子歪の分布を定量的に測定できた.STEM像取得中の試料ドリフトを補正し,複数枚の歪マップの平均によって,計測精度はσ = 0.2%程度まで高めることができた.</p>
収録刊行物
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- 顕微鏡
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顕微鏡 49 (3), 226-230, 2014-12-30
公益社団法人 日本顕微鏡学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390845702275734528
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- NII論文ID
- 130007701735
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- NII書誌ID
- AA11917781
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- ISSN
- 24342386
- 13490958
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- NDL書誌ID
- 026079587
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDLサーチ
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可